Fokus auf Metrologie

Der diesjährige Messeauftritt von YXLON wird sich in erster Lin­ie um das The­ma Metrolo­gie mit Com­put­er­to­mo­grafie drehen. So wird als Haup­tat­trak­tion eine neue Ver­sion der CT-Sys­teme YXLON FF20 CT und YXLON FF35 CT vorgestellt, die gezielt Messtech­niker anspricht.

Der Vorteil von CT-Sys­te­men in der Messtech­nik ist, dass im Gegen­satz zu optis­chen und tak­tilen Ver­fahren auch innere Struk­turen und Mate­ri­al­gren­zflächen hochge­nau gemessen wer­den kön­nen. Das vol­lau­toma­tis­che, nor­mgerechte Annah­mev­er­fahren nach VDI/VDE 2630–1.3 gewährleis­tet die Rück­führbarkeit des Sys­tems: die Mess­ab­we­ichun­gen vom kalib­ri­erten YXLON-Norm­prüfkör­p­er wer­den automa­tisch ermit­telt und doku­men­tiert. Auf dem Gesund­heitsmon­i­tor wird neben dem Sta­tus der Sys­temkom­po­nen­ten auch far­blich die Mess­bere­itschaft sig­nal­isiert. Die ver­wen­dete Präzi­sion­s­mechanik mit gran­it­basiertem Manip­u­la­tor, die Län­gen­maßstäbe und das Winkelmess­mod­ul am Drehtisch erfüllen höch­ste Ansprüche an die Genauigkeit. Auch die Tem­per­atursta­bil­isierung im Prüfraum des CT-Sys­tems wurde für den Ein­satz in der Messtech­nik opti­miert: so befind­et sich der Küh­ler außer­halb der Kabine und kann bei Bedarf auch in einen sep­a­rat­en Raum aus­ge­lagert wer­den. Im Prüfraum wird der Tem­per­aturbere­ich der Mess­raumk­lasse 3 erre­icht und somit der Ein­fluss von Mate­ri­alaus­dehnung minimiert.

Neben weit­eren Verbesserun­gen der grafis­chen Ober­fläche für die Touch-Bedi­enung ist die kom­fort­able und sehr schnell aus­führbare „Ein-Schicht-Rekon­struk­tion“ ein großer Gewinn. Hier­mit lassen sich Kor­rek­turen und Ein­stel­lun­gen in kürzester Zeit an ein­er einzeln rekon­stru­ierten Schicht über­prüfen und opti­mieren. Im Anschluss bietet der voll­ständi­ge Daten­satz mit hochge­nauen Ober­flächen unbe­gren­zte Mess-Möglichkeit­en auf­grund der kom­plett erfassten, nahezu unendlichen Messpunk­te­dichte. Dafür wer­den weit­ere Soft­warepakete der­art unter­stützt, dass nach dem CT-Scan automa­tisch das 3D-Vol­u­men geladen sowie ein Mess-Makro aus­ge­führt wer­den kann.

Aber auch die YXLON MU2000‑D kommt mit ihrer CT-Option auf der Messe zum Ein­satz. Das uni­verselle Rönt­gen­sys­tem ist seit 1997 erfol­gre­ich im Markt und mit­tler­weile 600-mal verkauft. Es wurde im Laufe der Jahre kon­tinuier­lich mit den let­zten Entwick­lun­gen im Bere­ich der Rönt­gen- und CT-Tech­nolo­gie aufgerüstet und damit auf dem aktuellen Stand der Tech­nik gehal­ten. Die neuen Fea­tures und Möglichkeit­en des Sys­tems wer­den eben­falls auf der Con­trol präsen­tiert. Und auch das Mikro­fokussys­tem YXLON Chee­tah, das vorzugsweise im Elek­tron­ikbere­ich einge­set­zt wird, hat auf dem Stand seinen Platz.

YXLON auf der Con­trol 2017: Halle 3 – Stand 3308